一、多測(cè)回中2c過大水平準(zhǔn)直誤差(c)也稱為視準(zhǔn)差。誤差是由視準(zhǔn)線c與全站儀橫軸不完全垂直造成的,這項(xiàng)誤差會(huì)影響全部水平角度數(shù)。高等級(jí)導(dǎo)線測(cè)量時(shí),規(guī)范對(duì)于半測(cè)回歸零差,一測(cè)回內(nèi)2C互差等指標(biāo)要求苛刻,測(cè)量人員對(duì)于全站儀的精度印象也主要來源于此些限差的通過率,但這2C不能直接代表儀器的精度。 |
解決排查方法A:對(duì)設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn): 1、在水平路面(不超過+-9°)大約100m外安置棱鏡目標(biāo)。 2、通過全站儀檢查與校準(zhǔn)程序進(jìn)行雙面精確觀測(cè)。 | |
解決方法B:檢查腳架及基座等配件的穩(wěn)定性,全站儀腳架及基座建立的觀測(cè)平臺(tái)穩(wěn)定性直接影響全站儀的測(cè)角精度 使用六棱扳調(diào)整,保證金屬和木材之間的連接始終牢固緊密。 |
干貨知識(shí):腳架及基座的選配
腳架的選配
保證測(cè)量精度的關(guān)鍵因素是測(cè)量?jī)x器平臺(tái)的穩(wěn)定性,三腳架與基座是形成測(cè)量穩(wěn)定平臺(tái)的主要結(jié)構(gòu)。
木質(zhì)腳架有很好的振動(dòng)衰減特性且在陽光下變形較小,所以我們推薦TPS產(chǎn)品使用木質(zhì)腳架。
腳架結(jié)構(gòu)和重量影響儀器平臺(tái)的穩(wěn)定性,對(duì)于控制測(cè)量及高等級(jí)水準(zhǔn)需要使用GST20等級(jí)重型腳架。
GST20 | GST40 | GST05 |
GST20腳架選用變形較小的櫸木浸油后上漆等工藝,使其具有卓越的穩(wěn)定性及長(zhǎng)壽命(參考客戶單位的老腳架),也因此決定了原裝腳架價(jià)格。
GST120-9腳架有專利的自鎖結(jié)構(gòu),可以快速收合方便外業(yè)使用。
GST40為不可伸縮重型腳架(整重6.0KG),其具有超高的防扭及抗震性,適用于一、二等精密水準(zhǔn)。
GST05為輕型木質(zhì)腳架,表面由防水聚合樹脂覆蓋,具有很好的環(huán)境適用 性,可耐風(fēng)吹雨打,主要適用于GPS及棱鏡站。
GST05若作為TPS腳架,可用于5秒級(jí)全站儀,適合測(cè)圖工作。
基座的選配
基座的位移差直接影響儀器的測(cè)角精度,所以要選用恰當(dāng)?shù)幕詽M足儀器的精度等技術(shù)規(guī)格要求。
基座的抗扭剛度是在儀器旋轉(zhuǎn)時(shí),基座產(chǎn)生輕微扭轉(zhuǎn),在自動(dòng)全站儀加速和減速時(shí)最為明顯,在儀器重新停止后的恢復(fù)原位的基座位移差決定了儀器的測(cè)角精度。
徠卡中國(guó)區(qū)銷售的TPS產(chǎn)品標(biāo)配有原裝基座,其基座精度與儀器本身精度適配。
相同抗扭剛度基座會(huì)有兩款,帶有光學(xué)對(duì)點(diǎn)器款式和GPS及棱鏡站使用,如GDF321的光學(xué)對(duì)點(diǎn)精度為1.5m處±0.5mm(具體在棱鏡與支架部分闡述)。
GDF321/GDF322 |
| GDF312 |
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GDF311 |
| GDF301/GDF302 |
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二、聯(lián)測(cè)高位置GPS點(diǎn)時(shí)2c超限橫軸傾斜誤差,為機(jī)械橫軸與豎軸之間不垂直導(dǎo)致的誤差,此項(xiàng)誤差影響水平角測(cè)量,且目標(biāo)約陡峭此誤差影響越大。在地鐵導(dǎo)線測(cè)量中,常需要聯(lián)測(cè)GPS控制點(diǎn), 而有些GPS控制點(diǎn)為了更好的對(duì)天通視,會(huì)建在較高位置,這樣進(jìn)行多測(cè)回時(shí),發(fā)現(xiàn)此方向上2C較大,便是橫軸傾斜誤差引起的。 |
解決排查方法A:對(duì)設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn); 1、在鐵塔、樓頂?shù)容^高地方(大于+-27° )尋找穩(wěn)定的可準(zhǔn)確瞄準(zhǔn)的位置。 2、通過全站儀檢查與校準(zhǔn)程序進(jìn)行雙面精確觀測(cè)。 |
干貨知識(shí):檢查與校準(zhǔn)總結(jié)校準(zhǔn)與測(cè)角影響
校準(zhǔn)與測(cè)角影響
ATR原理與校準(zhǔn)
解決排查方法:進(jìn)行ATR設(shè)置
1、TM30/TM50不具有ATR plus技術(shù)的 機(jī)型,可以打開雨&霧模式,這樣 設(shè)備可以延長(zhǎng)ATR曝光時(shí)間,從而 獲取更多的激光反射信號(hào)。 | 2、TM60/MS60等具有ATR plus技術(shù)的機(jī)型,可以直接選擇自動(dòng),全站儀會(huì)根據(jù)反射信號(hào)的 強(qiáng)弱自動(dòng)進(jìn)行激光發(fā)射強(qiáng)度調(diào)整,從而獲取 更多的激光反射信號(hào)。 |
干貨知識(shí):棱鏡工藝對(duì)ATR及測(cè)距影響
棱鏡的加工工藝
全站儀的精確測(cè)距需要借助于反射目標(biāo)來完成,所以全站儀的測(cè)距精度與測(cè)程需要依靠棱鏡等配件來體 現(xiàn),為了達(dá)到最優(yōu)的測(cè)程與精度,徠卡原裝棱鏡加入了如下嚴(yán)格工藝:
入射光束和反射光束不平行形成的角差稱為光束角偏差。大的光束角偏差將極大降低測(cè)距返回信號(hào)的強(qiáng)度,并因此降低距離測(cè)程,徠卡生產(chǎn)的每一個(gè)棱鏡會(huì)進(jìn)行光束偏角測(cè)定,小于2”的安裝與 GPR121/GPR1,大于2”小于8”的會(huì)安裝于GPR111,從而保證最大的測(cè)程。
為了增強(qiáng)棱鏡對(duì)測(cè)距紅外激光的反射率,徠卡原裝棱鏡增加了鍍銅增反層。銅對(duì)紅外光束具有非常 高的反射能力,對(duì)于國(guó)產(chǎn)沒有此工藝的棱鏡會(huì)影響30%的EDM性能(國(guó)產(chǎn)高仿棱鏡呈現(xiàn)紅色不一定使用鍍銅工藝)。
在短距離測(cè)距時(shí),棱鏡表面的反射會(huì)信號(hào)會(huì)影響EDM的真實(shí)測(cè)距信號(hào),為了避免此影響,徠卡原裝棱鏡前面增加了消除反射的涂層,從而大大降低反射光對(duì)短距離測(cè)距的影響,而國(guó)產(chǎn)高仿棱鏡無此 涂層造成測(cè)距錯(cuò)誤。
在隧道內(nèi)進(jìn)行雙導(dǎo)線測(cè)量,或者隧道內(nèi)由其他測(cè)量作業(yè)組棱鏡影響時(shí),全站儀會(huì)出新ATR過程中目標(biāo)識(shí)別錯(cuò)誤的情況。 | 解決排查方法:打開設(shè)備的Ultra fine設(shè)置。 |
導(dǎo)線網(wǎng)內(nèi)出現(xiàn)短邊
在隧道控制測(cè)量中,為了獲取更多的檢核條件,很多項(xiàng)目會(huì)采取雙導(dǎo)線測(cè)量法,如果隧道由左右線, 也會(huì)將左右線進(jìn)行聯(lián)測(cè)。在左右線聯(lián)測(cè)時(shí)會(huì)出現(xiàn)長(zhǎng)短邊現(xiàn)象,這些位置通常通過率較低。
在一些地鐵項(xiàng)目上,車站空間允許,聯(lián)系測(cè)量會(huì)采用導(dǎo)線直傳方式,這種方式也會(huì)出現(xiàn)導(dǎo)線短邊問 題。
導(dǎo)線短邊通過率低,主要是由于對(duì)中影響,所以提高測(cè)站及鏡站的對(duì)中精度,可以解決此影響。
解決排查方法A:采取強(qiáng)制對(duì)中,或者三聯(lián)架方案
解決排查方法B:采用高等級(jí)配件,減小對(duì)中誤差
干貨知識(shí):棱鏡及支架對(duì)中精度影響
控制測(cè)量棱鏡及支架選配
棱鏡站對(duì)于控制測(cè)量的精度影響主要來源于棱鏡站的對(duì)點(diǎn)精度與棱鏡的歸心精度,對(duì)點(diǎn)精度來源于基座或支架上的對(duì)點(diǎn)器,而棱鏡歸心精度來源于棱鏡與支架工藝。
帶有對(duì)點(diǎn)器的基座,在鏡站架設(shè)時(shí)不方便進(jìn)行檢核,基座本身存在的對(duì)點(diǎn)誤差沒法被及時(shí)發(fā)覺
帶有對(duì)點(diǎn)器的支架在鏡站架設(shè)完后可以進(jìn)行旋轉(zhuǎn)檢查,保證棱鏡站的對(duì)點(diǎn)精度
棱鏡的歸心精度是棱鏡光學(xué)中心與棱鏡框架、支架機(jī)械中軸的重合度,鏡站需要根據(jù)對(duì)點(diǎn)其對(duì)點(diǎn)精度與棱鏡歸心精度匹配配件
在導(dǎo)線測(cè)量中檔出現(xiàn)短邊時(shí),鏡站的精度會(huì)對(duì)控制網(wǎng)精度有很大的影響
GPH1P
| GPR121
| GPR1+GPH1
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GZR3
| GZR103
| GRT144
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